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게이트 길이 변화에 따른 기판 바이어싱 기술이 적용된 ESD 보호회로에 관한 연구

Koo Yong Seo;
도경일;
송보배;
김채원;
구용서

제목: 게이트 길이 변화에 따른 기판 바이어싱 기술이 적용된 ESD 보호회로에 관한 연구

저자: Koo Yong Seo; 도경일; 송보배; 김채원; 구용서

발행일: 2017-07-06

학회명: 2017년 한국전기전자학회 학술대회

개최지: 대한민국한밭대학교 유성 덕명캠퍼스

개최국가: 대한민국

학회 개최일: 2017-07 ~ 2017-07-07